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一种锁圈类结构的锁紧弯折量测量装置及方法

发明专利未知
10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

孙浩; 黄轶坤; 刘超; 曾芝霖

申请日

Jul 7, 2026

公开日

Oct 27, 2026

IPC 分类

G01B 5/00 (2006.01)

本发明公开了一种锁圈类结构的锁紧弯折量测量装置及方法,所述测量装置包括固定底托、压杆和百分表,所述固定底托通过固定块与压杆铰接,固定底托上设置锁紧组件和定位块,所述百分表设置在固定底托上。本发明通过设置锁紧组件及定位块使其能够固定在压紧螺母上。通过转动压杆可完成将锁紧垫圈压入锁紧槽,并结合测量组件和百分表的设置测量压入处锁紧垫圈的弯折量,使锁紧垫圈的弯折量可以得到实时监控,避免锁紧垫圈过度弯折出现裂纹,提高锁紧过程的合格率及精确度。

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