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一种绝对式平面二维时栅传感器及其测量方法
发明专利未知
10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
G01D 5/243 (2006.01)G01D 5/244 (2006.01)G01B 7/02 (2006.01)
本申请涉及精密位移测量技术领域,公开了一种绝对式平面二维时栅传感器及其测量方法,传感器包括定尺基体和动尺基体,定尺基体上设置有沿X方向和Y方向周期阵列分布的两层激励电极,且两层具有不同周期结构;动尺基体上设置有与各层激励电极对应的差动感应电极。测量时通过模拟开关实现激励电极的分时通断:在第一时段内,仅对其中一层施加激励信号并采集输出;在第二时段内切换至另一层施加激励信号并采集输出。分别对各时段获取的信号进行相位检测与解算,并基于两层周期数差异进行联合处理,获得X、Y方向的绝对位移。本发明在单一测量结构下无需额外增设码道,实现了平面二维绝对位置定位,降低了系统复杂度并提升了整体集成性能。
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