一种光学盖板生产质量检测方法

本发明涉及光学盖板生产技术领域，且公开了一种光学盖板生产质量检测方法，该方法包括：多源机构导轨采集与预处理；待位移请求集的特征提取与分级构建；已执行位移请求集的筛选与生产变量修正；构建融合光学特征匹配度、位移历史匹配度和信息密级匹配度的多维度匹配度计算模型并求解；基于匹配度阈值进行位移策略的精准匹配与输出；检测结果反馈与位移策略迭代优化，实现质量检测闭环。本发明通过将光学性能指标融入匹配度核心维度，引入生产影响因子进行历史数据动态修正，并构建完整的检测‑优化‑再检测闭环，大幅提高了检测准确率至98％以上，误判率控制在2％以内，同时具有良好的场景适配性和持续优化能力。