一种顶置式天平高精度加样系统和控制方法

本发明涉及一种顶置式天平高精度加样系统和控制方法，该方法包括S1：初始化与参数预设；S2：计算当前剩余量，根据当前剩余量与切换阈值的比较结果，判断当前阶段；S3：根据当前阶段、克/转增益或克/周期增益及其标准差，选定下次下料操作的操作参数；S4：根据操作参数，执行单次下料动作；S5：采集质量信号及姿态信号；S6：利用卡尔曼滤波器对质量信号进行滤波，得到稳态质量估计值；S7：根据稳态质量估计值更新当前剩余量，并且实时更新EMA增益及其标准差；S8：若更新后的当前剩余量达到目标质量的允许误差范围，则结束加样；否则返回步骤S2。本发明能够对任意物性的粉体实现高精度稳定下料。