一种基于多角度散射信号的纳米粒度仪及其检测方法

本发明公开一种基于多角度散射信号的纳米粒度仪及其检测方法，该仪器包括样品池、激光器、分光片、三个不同角度布置的散射光接收光纤、光纤耦合器、APD 检测器、数据采集卡、控制单元以及电机驱动挡光片组件；激光器输出激光经分光片形成两路入射光路，通过电机驱动挡光片切换入射光路与接收光路通断，配合三路光纤布局最多实现六个散射角度信号采集。检测方法包括：分时采集各角度散射光信号并计算相关曲线，根据残差范数曲线拐点自适应确定有效相关曲线通道数、筛选有效检测角度，剔除噪声过大角度；基于 Mie 理论建立理论相关曲线矩阵，通过遍历迭代自适应优选正则化系数，利用多角度相关曲线矩阵拟合反演得到粒径分布。