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氧化镁涂层均匀性红外检测方法

发明专利未知
9权利要求 · 3 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

吴世旺; 杨莲龙; 焦守强; 白伟鹏; 刘玉凤

申请日

Sep 18, 2026

公开日

Oct 27, 2026

IPC 分类

G01N 21/359 (2014.01)G01N 21/3563 (2014.01)G01N 25/20 (2006.01)

本发明涉及取向硅钢生产质量检测技术领域,提供氧化镁涂层均匀性红外检测方法。本发明从硅钢带板形波浪的几何特征出发,将板形波浪幅值与板形波浪周期映射为钢卷卷取状态下层间接触压力的横向分布,再将层间接触压力与氧化镁涂层面密度共同映射为界面有效反应接触面积的空间分布,以界面有效反应接触面积和退火温度时序共同驱动各采样单元固相反应转化率的计算,得到成膜厚度的全幅空间分布预测结果;在此基础上,将退火后实测成膜分布与预测分布逐区域比对,实现板形先天因素导致的固有成膜波动与工艺扰动导致的异常成膜偏差的解耦分离。本发明精准识别压力诱导型成膜不均,实现缺陷溯源前置预判,满足高等级取向硅钢精细化质量管控需求。

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