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用于光谱分析的基于动态背景内标的形态校正方法

发明专利未知
10权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

申请人

四川省产品质量监督检验检测院; 成都市产品质量监督检验研究院; 成都产品质量检验研究院有限责任公司

发明人

吴双; 廖强; 杨春尧; 吴维翔; 程聪; 刘亚赤; 杨丽; 余赤; 黎春娟

申请日

Aug 10, 2026

公开日

Oct 27, 2026

IPC 分类

G01N 23/223 (2006.01)

本发明提供了用于光谱分析的基于动态背景内标的形态校正方法,涉及目标元素定量分析技术领域,包括:获取多个标准样品,对每个标准样品进行以下操作:通过X射线荧光对标准样品进行检测,得到光谱数据;基于光谱数据识别目标元素的特征峰能量位置;在目标元素的特征峰能量位置的高能侧和低能侧分别建立第一候选窗口和第二候选窗口,并搜索背景窗口;计算分析线强度和背景窗口的背景内标强度的比值,得到强度比;记录所有标准样品的强度比,建立目标元素浓度‑强度比的函数关系;获取待标定样品,根据目标元素浓度‑强度比的函数关系,计算待标定样品中的目标元素的浓度。本发明的优点是可以校正标准样品物理形态差异引起的荧光强度波动。

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