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基于微孔阵列的荧光显微镜校准方法及系统

发明专利未知
9权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

申请人

宁波市计量测试研究院(宁波新材料检验检测中心)

发明人

秦树伟; 卓文钦; 余善成; 单佳盈; 穆文耀; 孙刚

申请日

Sep 22, 2026

公开日

Oct 27, 2026

IPC 分类

G02B 21/00 (2006.01)G02B 21/36 (2006.01)G01N 21/64 (2006.01)

本发明涉及荧光显微镜校准技术领域,公开了基于微孔阵列的荧光显微镜校准方法及系统,包括获取微孔阵列的阵列拓扑参数,生成多个相对校准位置;控制标准光源与微孔阵列同步移动,采集校准图像并获取标准光状态参数,得到归一化微孔响应值;通过微孔输入‑视场响应双因子分离模型计算各视场校准区域的视场响应因子;进行空间拟合,得到指定荧光检测通道的全视场响应校准图,并对荧光图像进行位置响应修正。本发明能够降低物理微孔有效光输入差异对视场响应校准的影响,提高全视场响应校准准确性。

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