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一种高性能铌酸锂电光调制器及其制备方法

发明专利未知
10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

戚健鹏; 袁佳乐; 金贤敏

申请日

Aug 20, 2026

公开日

Oct 27, 2026

IPC 分类

G02F 1/035 (2006.01)G02F 1/03 (2006.01)

本申请公开了一种高性能铌酸锂电光调制器及其制备方法,可应用于半导体技术领域,该方法包括:在薄膜铌酸锂晶圆的正面依次形成光波导、调制电极以及氧硅上包层;薄膜铌酸锂晶圆自下而上依次包括硅衬底、热氧硅层以及单晶铌酸锂薄膜层;在薄膜铌酸锂晶圆的正面刻蚀形成切割道,且薄膜铌酸锂晶圆的正面不形成光学开槽结构;在薄膜铌酸锂晶圆的背面刻蚀形成光学开槽结构;光学开槽结构的刻蚀停止于热氧硅层。如此,在薄膜铌酸锂晶圆背面制作光学开槽结构并以热氧硅层作为停止层、正面仅制备切割道,解决了正面开槽造成的光刻胶缺陷与刻蚀冲突问题,从而在保证器件电光调制性能的同时,有效提升了晶圆批量加工良率与图形尺寸精度。

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