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奇偶校验功能的测试方法、装置、设备及存储介质

发明专利未知
10权利要求 · 4 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

杨振庭; 薛茂盛

申请日

Jun 26, 2026

公开日

Oct 27, 2026

IPC 分类

G06F 11/263 (2006.01)G06F 11/267 (2006.01)G06F 11/22 (2006.01)

本申请提供了一种奇偶校验功能的测试方法、装置、设备及存储介质,涉及集成电路测试技术领域。可以获取通路描述数据和节点配置描述数据,将任意复杂NoC拓扑中所有主端到从端通路的节点标识及寄存器信息按序记录,从而形成覆盖全部通路的测试路径描述;然后,通过解析上述数据自动生成由注错节点和检测节点构成的测试节点对,实现测试用例与芯片架构的解耦,使得同一测试脚本仅需更换配置文件即可适配不同子系统,大幅提升测试的可重用性;从而,针对每个测试节点对依次执行对应的奇偶校验功能测试,覆盖各节点,最终实现复杂SoC子系统NoC中奇偶校验功能安全特性的完备、高效测试验证。

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