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单相多绕组变压器的校验方法及设备
发明专利未知
10权利要求 · 4 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
杨耀贤; 张震海; 李修一; 侯俊贤; 孙继伟; 李旻; 田振
申请日
Sep 22, 2026
公开日
Oct 27, 2026
IPC 分类
G06F 30/367 (2020.01)G06F 30/373 (2020.01)G06F 111/04 (2020.01)G06F 111/10 (2020.01)
本申请公开了一种单相多绕组变压器的校验方法及设备。方法包括:获取变压器中每一对绕组的短路电抗参数;根据短路电抗参数构建降阶参考电抗矩阵;对降阶参考电抗矩阵进行求逆运算,得到降阶逆电抗矩阵;对降阶逆电抗矩阵进行维度扩展,得到覆盖变压器全部绕组的完整逆电抗矩阵;在变压器的任意两个绕组之间设置耦合电纳,并使各耦合电纳的电纳参数与完整逆电抗矩阵中对应绕组组合的元素值相同,以形成变压器的多边形等效耦合电路;向多边形等效耦合电路施加电压激励,将多边形等效耦合电路响应于电压激励的电流输入继电保护装置,计算继电保护装置采集的电流采样值与继电保护装置的电流保护定值之间的偏差,根据偏差生成保护定值校验结果。
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