荧光孔板成像光照不均匀性的标定引导双尺度耦合校正方法

本发明公开了荧光孔板成像光照不均匀性的标定引导双尺度耦合校正方法，属于荧光成像检测与图像处理技术领域。该方法包括：采集标准荧光孔板参考图像，提取各孔位荧光强度，拟合构建物理光照基础模型并存储孔位级标定校正系数；对待校正样品图像，屏蔽孔内荧光区域进行光照估计，并与标定模型加权融合得到混合光照估计，据此进行自适应伽马校正，得到粗校正图像；在粗校正图像上分割提取各孔位荧光强度；根据有效孔位分布情况自适应地计算残余校正系数，完成孔位级精细校正。本发明将标定先验与自适应算法深度融合，通过双尺度耦合校正同时解决全局光照渐变和孔位局部偏差问题，显著提升全板荧光定量的均匀性和准确性。