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异质集成互补半导体器件及其制备方法
发明专利未知
10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
H10D 84/85 (2025.01)H10D 84/01 (2026.01)H10D 62/82 (2025.01)H10D 62/80 (2025.01)
本发明公开了一种异质集成互补半导体器件及其制备方法。所述异质集成互补半导体器件包括:异质结器件,所述异质结器件包括衬底、异质结、p型半导体层以及栅电极;其中,所述异质结位于所述衬底一侧;所述p型半导体层位于所述异质结远离所述衬底的一侧;所述栅电极位于所述p型半导体层远离所述衬底的一侧;栅极绝缘层,位于所述栅电极远离所述衬底的一侧;p型沟道层,位于所述栅极绝缘层远离所述衬底的一侧,所述p型沟道层的材料包括氧化碲;第一源极以及第一漏极,均位于所述p型沟道层远离所述衬底的一侧。本发明能够提高异质集成互补半导体器件的良率。
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