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半导体装置及其制造方法
发明专利未知
27权利要求 · 4 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
H10D 30/47 (2006.01)
半导体装置(1)具备:沟道层(14);势垒层(16),设置于沟道层(14)的上方,带隙比沟道层(14)大;p型半导体层(18),设置于势垒层(16)的上方;源极电极(32)以及漏极电极(34),以将p型半导体层(18)夹在中间的方式设置;i型的含Al层(20),设置于p型半导体层(18)的上方,带隙比p型半导体层(18)大,包含Al;i型的不含Al层(22),设置于含Al层(20)的上方,不包含Al;以及栅极电极(30),设置于不含Al层(22)的上方。
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