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PROBE ALIGNMENT AND SURFACE FOLLOWING FOR NON-DESTRUCTIVE TEST (NDT)
发明专利审中
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
BADEAU, Nicolas; MARCEAU, Gabriel
申请日
Feb 25, 2024
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类
G01NG01NG01SG01SG01S
CPC 分类
G01SG01SG01SG01SG01SG01S
发明人
BADEAU, Nicolas; MARCEAU, Gabriel
申请日
Feb 25, 2024
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类
CPC 分类