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INSPECTION DEVICE FOR FOREIGN MATTER AND PARTICLE AGGREGATES, AND INSPECTION METHOD
发明专利审中
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
SUGIYAMA, Kiyotaka
申请日
Mar 1, 2023
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类
C12M
CPC 分类
C12M
发明人
SUGIYAMA, Kiyotaka
申请日
Mar 1, 2023
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类
CPC 分类