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CONTOUR SHAPE MEASURING DEVICE AND METHOD
发明专利审中
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
FURUTA, Yohei; YONEDA, Nao; NISHIDA, Hiroto; MORIMOTO, Tsutomu; SHIMPO, Hideki
申请日
Apr 1, 2024
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类
G01BG01BH01L
CPC 分类
G01BH01LG01B
发明人
FURUTA, Yohei; YONEDA, Nao; NISHIDA, Hiroto; MORIMOTO, Tsutomu; SHIMPO, Hideki
申请日
Apr 1, 2024
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类
CPC 分类