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TEMPERATURE PROFILING CIRCUIT AND METHOD FOR DETERMINING A TEMPERATURE PROFILE
发明专利审中
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
Ryabchenkov,, Sergey Sergeevich; Kandah,, Ibrahim Shihadeh; Storez,, Antoine
申请日
Jul 4, 2024
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类
G01KG01KG01KG01KG01KG01R
CPC 分类
G01KG01KG01KG01KG01K