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COMPOSITION FOR FORMING RESIST UNDERLAYER FILM, PATTERNING PROCESS, AND RESIST UNDERLAYER FILM FORMATION PROCESS

发明专利审中
§ Ⅰ

卷宗概要

申请人

Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.

发明人

Kobayashi, Naoki; Kori, Daisuke; Yano, Toshiharu

申请日

Jun 24, 2025

公开日

Jan 6, 2026

IPC 分类

G03FC08F

CPC 分类

G03FG03FC08F