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TIME COMPENSATION METHOD AND SYSTEM FOR INTERFERENCE TEST DEVICE
发明专利审中
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§ Ⅰ
卷宗概要
申请人
Beijing Jingwei Hirain Technologies Co., Inc.
发明人
WANG, Ziyu; CUI, Hangtao; YANG, Ran; WANG, Yongting
申请日
Jul 10, 2024
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类
H04J
申请人
Beijing Jingwei Hirain Technologies Co., Inc.
发明人
WANG, Ziyu; CUI, Hangtao; YANG, Ran; WANG, Yongting
申请日
Jul 10, 2024
公开日
Jan 6, 2026
IPC 分类