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전고체 전지용 두께 측정 장치

发明专利审中
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§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

이대진; 최성원; 김지영; 이홍주

申请日

Jun 24, 2024

公开日

Dec 31, 2025

IPC 分类

G1B 21/8G1B 21/30G1L 5/H1M 10/42

CPC 分类

G1B21/8G1B21/30G1L5/28H1M10/4285