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단일 염기 다형성 검출을 위한 분자 진단 칩, 방법 및 키트

发明专利patent.status.granted
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§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

이내윤; 타이덕안

申请日

Oct 26, 2023

公开日

Dec 31, 2025

IPC 分类

B1L 3/C12Q 1/6844

CPC 分类

B1L3/5023C12Q1/6844B1L2200/663B1L2300/69C12Q2600/156