원래 이름 기록: 爱德万测试株式会社

本发明提供一种测试电路、测试装置、及测试方法，可防止就高速信号而言继电器的端子作为电容而阻碍传递的情况，提高功能测试的精度。测试电路包括：电压供给部，产生输出电压；脉冲产生部，在被测试器件的功能测试中，使用来自所述电压供给部的输出电压来产生脉冲信号并向被测试器件供给；以及测定电路，在被测试器件的电压施加电流测定测试或电流施加电压测定测试中，将供给到被测试器件的电压或电流调整为测试电压或测试电流，使用所述测试电压或所述测试电流进行所述电压施加电流测定测试或所述电流施加电压测定测试，所述测定电路至少连接在所述电压供给部与所述脉冲产生部之间。

本发明提供一种开关装置及试验装置。开关装置其将第一端子与第二端子之间电连接或切断，所述开关装置包括：多个主开关，在第一端子与第二端子之间串联连接；第一检测缓冲器部，被输入第一端子处的第一电压，并输出与第一电压相应的第一检测电压；以及偏置电路，根据主开关的个数对与第二端子处的第二电压相应的电压和第一检测电压的电位差进行分压，将进行分压而得的各个电压施加至对应的主开关。