茂晶光电（厦门）有限公司

本发明提供一种用于量测一曲面光学工件的量测治具及量测方法，该曲面光学工件的斜面与底面形成α角且具有多个屈光曲面。该量测治具包含一定位基座、一旋转枢轴与一旋转载台。该定位基座包含连接两相对侧向支承壁的一止档基准面。该旋转载台藉由沿一Y方向延伸的该旋转枢轴枢设于两支承壁之间并沿一XZ平面旋转，其具有一承载面、一校准基准面及相连形成180°‑α夹角的第一与第二抵靠平面，该夹角介于110度至175度。该第一与第二抵靠平面分别于一第一与一第二角度位置与该止档基准面形成面接触，且满足1.00<L1/L2≤2.00。