德力光电科技（天津）有限公司

本发明公开了一种光谱仪杂散光在线抑制校正方法及系统，涉及光谱检测技术领域，方法包括：获取光谱仪对全波段单色光的全波段像素响应曲线并提取残差数据，将其提纯归一化得到基础杂光图样，作为离线校正基底库；接着在线采集当前帧的原始光谱，定位原始光谱中的强峰像素位置与光强幅值，调取离线校正基底库中的基础杂光图样经过空间平移、幅度调制合成专有杂光模板，最终将原始光谱减去该模板，输出校正后的纯净光谱，实现杂散光在线抑制校正。本发明解决了光谱仪在复杂测量环境中，静态校正难以应对动态变化的杂散光干扰，导致测量精度受限的技术问题，达到了利用动态合成专有杂光模板并实时扣除，提升光谱测量准确性与环境适应性的技术效果。