等离子体处理装置
在各向同性蚀刻时,控制晶片上的自由基分布,并且防止第二遮挡板上表面的异物飞扬。等离子体处理装置具备:处理室(106),其对样品进行等离子体处理;高频电源(113),其供给用于生成等离子体的高频电力;样品台(120),其载置所述样品;以及第一平板(115),其配置于所述样品台(120)的上方且具有多个贯通孔(170),所述等离子体处理装置还具备:第二平板(116),其配置于所述第一平板(115)与所述样品台(120)之间且与所述第一平板(115)对置;以及气体供给口(150),其配置于所述第一平板(115)与所述第二平板(116)之间的所述处理室(106)的侧面且供给气体,所述贯通孔(170)仅在从中心离开规定的距离的部位的外侧沿着同心圆配置,在周向上相邻的所述贯通孔的间隔比所述贯通孔的直径小。