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本发明涉及一种内存批量自动化测试系统，包括：第一控制单元、第二控制单元、第三控制单元、电源管理单元、内存承载单元、上位机及机械手执行单元，第一控制单元包括与上位机和机械手执行单元连接的MCU、连接至MCU的MCU侧EEPROM存储器，第二控制单元包括与电源管理单元连接的EC、连接至EC的EC侧EEPROM存储器，第三控制单元包括CPU、连接至CPU的BIOS存储器和集成在CPU内的内存控制器，内存承载单元包括与CPU连接的SPD芯片、与CPU连接的内存插座、与电源管理单元连接的加温模块，MCU、EC和CPU彼此两两连接，本发明还涉及了一种基于上述测试系统的内存批量自动化测试方法。