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本发明涉及一种顶置式天平高精度加样系统和控制方法，该方法包括S1：初始化与参数预设；S2：计算当前剩余量，根据当前剩余量与切换阈值的比较结果，判断当前阶段；S3：根据当前阶段、克/转增益或克/周期增益及其标准差，选定下次下料操作的操作参数；S4：根据操作参数，执行单次下料动作；S5：采集质量信号及姿态信号；S6：利用卡尔曼滤波器对质量信号进行滤波，得到稳态质量估计值；S7：根据稳态质量估计值更新当前剩余量，并且实时更新EMA增益及其标准差；S8：若更新后的当前剩余量达到目标质量的允许误差范围，则结束加样；否则返回步骤S2。本发明能够对任意物性的粉体实现高精度稳定下料。

本发明涉及一种基于大模型的谱图重构方法和系统，该方法包括：获取原始谱图，对原始谱图进行预处理得到平滑谱图；对平滑谱图进行结构化特征提取，构建统一的结构化表示框架；统一的结构化表示框架用于表征谱图类别信息、基线特征以及谱峰轮廓特征，且包括用于表征平滑谱图中基线和谱峰轮廓特征的采样点集，并作为曲线重建任务和谱图分析问答任务的统一输入表示；根据统一的结构化表示框架进行曲线重建，生成与原始谱图对应的重构参考谱图；利用原始谱图、统一的结构化表示框架以及重构参考谱图，构建谱图训练数据集；基于预训练模型，输入谱图训练数据集，对预训练模型进行训练和监督微调，得到谱图重构模型。