원래 이름 기록: Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc. | CNIPA.AI

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특허 출원인 기록

이름 기준 검색 결과이며 법적 주체의 동일성을 확인한 것이 아닙니다. 동명인·조직, 별칭 및 이전 이름을 자동 통합하지 않습니다.

원래 이름 필드 전체와 정확히 일치하는 기록입니다. 여러 출원인 또는 다른 역할의 당사자가 포함될 수 있습니다. 이름 경계와 법적 주체는 미확인이며 구두점을 분리하지 않습니다.

색인된 특허 기록 5건

№ EP4673729A1발명

GRAPHIC OVERLAY FOR SAMPLE CAMERA IN X-RAY MICROSCOPE

GRAPHIC OVERLAY FOR SAMPLE CAMERA IN X-RAY MICROSCOPE

❖Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc.CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; TAN, MeowJan 6, 2026G01N4

№ EP4673730A1발명

USER-DRIVEN-THREE-DIMENSIONAL COLLISION AVOIDANCE IN MICROSCOPY SYSTEM

USER-DRIVEN-THREE-DIMENSIONAL COLLISION AVOIDANCE IN MICROSCOPY SYSTEM

❖Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc.CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; CANDELL, Susan; KUHLMAN, Erich; CHU, Andrew; WANG, Li; EVANS, EdwinJan 6, 2026G01N2

№ EP4673731A1발명

METHOD AND SYSTEM FOR GUIDED PARAMETER SELECTION IN X-RAY MICROSCOPE

METHOD AND SYSTEM FOR GUIDED PARAMETER SELECTION IN X-RAY MICROSCOPE

❖Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc.CHANG, Hauyee; KOTWAL, Naomi; HANLON, Justin; TAN, Meow; WHITE, Robin; SMYTH, Brian; KRAMPERT, Gerhard; DUTSCHKE, AnkeJan 6, 2026G01N, G06F5

№ EP4673732A1발명

GUIDANCE FOR GEOMETRICAL AND OPTICAL MAGNIFICATION IN X-RAY MICROSCOPE

GUIDANCE FOR GEOMETRICAL AND OPTICAL MAGNIFICATION IN X-RAY MICROSCOPE

❖Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc.CANDELL, Susan; KOTWAL, Naomi; CHANG, Hauyee; KUHLMAN, Erich; KELLY, Stephen; DUTSCHKE, AnkeJan 6, 2026G01N, G06F4

№ EP4673958A1발명

METHOD AND SYSTEM FOR GUIDANCE FOR GEOMETRICAL AND OPTICAL MAGNIFICATION IN X-RAY MICROSCOPE

METHOD AND SYSTEM FOR GUIDANCE FOR GEOMETRICAL AND OPTICAL MAGNIFICATION IN X-RAY MICROSCOPE

❖Carl Zeiss X-Ray Microscopy, Inc.CHU, Andrew; KOTWAL, Naomi; CHANG, Hauyee; CANDELL, Susan; CASE, Thomas A.; SMYTH, Brian; HANLON, Justin; BRODERICK, WayneJan 6, 2026G21K3