№ CN121353267A発明
有効一种图像缺陷检测方法、系统和可读存储介质
本发明涉及半导体图像处理领域,具体提供一种图像缺陷检测方法、系统和可读存储介质,包括视觉编码器、大语言模型和回归框预测头,所述方法包括将待检测图像输入至所述视觉编码器,生成基于全局信息和局部特征的图像向量;将缺陷问题文本输入所述大语言模型生成文本向量,所述大语言模型根据所述图像向量和所述文本向量得到预测信息;回归框预测头根据预测信息输出缺陷检测结果,所述缺陷检测结果包括缺陷检测框坐标和缺陷类别。能够在样本较少的情况下依然能够保持较高的检出率与准确率,具备良好的跨产线泛化能力。
❖杭州广立微电子股份有限公司林立恒; 姜辉; 叶倩倩§ 3/10 請求項G06T 7/00 (2017.01), G06V 10/766 (2022.01), G06V 10/82 (2022.01) +612