检测显微镜的光学特性的方法、恢复显微镜的成像质量的方法以及适于实施所述方法的显微镜
本发明涉及一种用于恢复高性能显微镜(22)的成像质量的方法,所述高性能显微镜具有图像传感器(36)和成像光学单元(30),所述成像光学单元具有多个光学元件(L1至L3)并且将物平面(32)成像到所述图像传感器(36)上。在所述显微镜(22)的成像质量满足规格的第一时间点,将结构(60;60a、60b)布置在所述物平面(32)中。随后,以聚焦方式记录所述结构的图像1‑1,并且以离焦方式记录另一图像1‑2。在更换光学元件之后或为了确保成像质量,在较晚的时间点再次将所述结构布置在所述物平面(32)中。随后,以聚焦方式记录所述结构的图像2‑1,并将其与图像1‑1进行比较,以检测至少一个第一成像误差。随后实施用于粗略校正所述第一成像误差的第一措施。此后,以离焦方式记录所述结构的图像2‑2,并将其与图像2‑2进行比较,以检测第二成像误差。最后,实施用于校正所述第二成像误差的第二措施。替代地,也可以基于所述显微镜的光学设计来模拟图像1‑1和1‑2。