元の名称記録: 成都博奥晶芯生物科技有限公司; 北京博奥晶典生物技术有限公司; 成都博奥独立医学实验室有限公司

本发明涉及微流控芯片制造技术领域，特别涉及一种基于缺陷优先级的微流控芯片智能抓取方法。该方法通过多光谱成像和深度学习实现精准缺陷识别，采用多因素风险评估模型科学量化抓取风险，根据优先级自适应调整抓取参数，有效减少二次损伤，提高抓取效率和生产质量。实验表明，本发明抓取成功率可达99.2%以上，二次损伤率低于0.5%。