元の名称記録: 中国电子科技集团公司第三十八研究所

本发明公开了一种硅基级联开关延时线控制电压校准方法和系统及其光谱平坦度度量方法和装置，涉及硅基级联开关延时线控制电压校准领域，包括：将预设波长范围的光源注入硅基级联开关延时线；获取硅基级联开关延时线输出的光的光谱功率谱数据；根据光谱功率谱数据计算得到基于光谱功率谱数据的频域均匀性和时域平滑度的光谱平坦度。本发明结合频域均匀性和时域平滑度来全面评估硅基级联开关延时线输出的光的光谱平坦度，鲁棒性强，精度高，有利于提高后续的电压校准的精度。

本发明公开了基于特征识别的微波壳体零部件可制造性分析方法及系统，属于可制造性分析技术领域，包括以下步骤：S1：特征提取及识别；S2：可制造性分析；S3：优化建议。本发明能够利用微波壳体类零部件产品的三维模型在设计阶段对产品的可制造性进行分析，从而在设计阶段内能够完善优化产品设计，对提高设计质量和设计效率、缩短产品研发周期具有重要作用；利用特征识别方法可以将产品模型合理拆分，并利用对单个特征的设计加工规则来判断模型设计的合理性和可加工性，可制造性规则可以作为设计改进建议，进而针对性实现微波壳体类零部件产品设计的优化建议。

本发明提供一种基于正交相移调制的有源阵列多通道校准方法及系统，涉及雷达探测技术领域，包括以下步骤：将有源阵列放置于吸波暗室或室外空旷区域，在正对有源阵列且与有源阵列垂直距离为设定距离R的位置放置一个校准信号源；校准信号源按照固定的脉冲重复频率发射脉冲信号；在N个脉冲周期内，采用N×N单元正交矩阵对各个接收通道的信号进行调制，通过对合成信号与各个接收通道对应的共轭复数码进行相关计算，得到各个接收通道的幅度估计值和相位估计值，进而获得幅度校准系数和相位校准系数，实现对有源阵列各通道的校准，解决了传统校准方法中无法体现模拟波束形成架构有源阵列中各个通道之间互耦效应影响的问题。

本发明公开了一种大跨度防护罩系统及其同步展收方法，包括支撑平台、一个或多个防护罩组和同步展收装置；每个防护罩组包括两个可转动对开的防护罩单元，每个防护罩单元具有展开状态和收拢状态；在收拢状态时，每个防护罩转动至与同一防护罩组中的防护罩对接，以完全覆盖支撑平台上的预设区域；在展开状态时，每个防护罩单元转动至与同一防护罩组中的防护罩对开，以完全显露支撑平台上的预设区域；同步展收装置用于驱动一个或多个防护罩组中的所有防护罩单元实现同步展开或收拢。本发明能够实现一个或多个防护罩组中的所有防护罩单元同步展开或收拢。

一种系留气球气体渗漏量评估方法，属于系留气球技术领域，解决如何提高系留气球气体渗漏量评估的准确性的问题，构建气体渗漏量计算模型，并构建摩尔数动态方程，求解各区域气体摩尔数变化量、系留气球各区域体积以及总体积，实时采集系留气球各区域渗漏参数，评估各区域渗漏量并显示渗漏参数和评估结果，本发明，在数学计算模型建立过程中考虑不同氦气囊、空气囊等气体特性，同时结合不同氦气囊、空气囊等囊体压力及温度等特性，通过数学模型即可实现系留气球内部氦气囊和空气囊气体的渗漏量，解决系留气球气体渗漏量准确评估中方法缺失和数学模型缺少的问题，为系留气球型号产品研制和使用保障中气体渗漏量准确评估提供一种工程上的方法。

本发明提供一种基于双域特征的辐射源数据清洗方法，涉及辐射源数据清洗技术领域，包括获取辐射源信号的中频IQ数据；提取中频IQ数据的时域特征并与预设信号的时域特征进行对比筛选，得到第一清洗信号；提取第一清洗信号的频域特征并与预设信号的频域特征进行对比筛选，得到第二清洗信号；输出保存第二清洗信号。通过对辐射源数据进行时域和频域联合特征协同分析，实现了对异常数据的清洗，提高了辐射源识别的输入数据质量。

本发明属于雷达系统技术领域，提供了一种共口径开放边界脊喇叭天线阵列，包括四组开放边界结构的脊喇叭天线、天线罩、反射板和同轴馈电口；所述四组开放边界脊喇叭天线分别为第一天线，第二天线，第三天线和第四天线；所有天线共口径分布，其中所述第一天线和第二天线平行分布；所述第三天线和第四天线对称分布在第二天线的左右两侧，并与第二天线位于同一直线上；所述的开放边界结构为去除了脊喇叭天线喇叭口的四面金属壁，脊天线直接固定安装在反射板上。在脊喇叭天线的基础上采用开放边界的结构，组成共口径的天线阵列，实现了超宽的工作带宽。