元の名称記録: 杭州长川科技股份有限公司

本公开提供了一种测试数据的处理方法、装置、设备和存储介质，通过按照预设频率读取测试文件中的芯片测试数据并在数据展示界面刷新显示最新读取的部分芯片测试数据，使用户可以在芯片测试过程中实时监控测试流程，并且，提供了虚拟结批功能，在芯片测试过程中随时可以按照预设统计维度对已获取到的芯片测试数据进行统计分析并展示统计分析数据，以及基于统计分析数据生成可被测试分析工具解析的子测试文件，利用测试分析工具生成分析报告，用户无需等待芯片测试工程结束才能确定芯片测试过程中各测试项或各待测芯片的测试情况，可以及时发现异常。

本申请涉及一种针卡平行度计算方法、装置及探针台设备。该方法包括：根据针卡上注册探针的针尖点的位置信息拟合得到针卡拟合平面；确定经过每个所述注册探针的第一目标点的水平面垂线与所述针卡拟合平面相交的点，得到每个所述注册探针对应的交点；所述第一目标点是所述针尖点或所述针尖点在所述针卡拟合平面和水平面的共垂面上的第一投影点；根据各所述注册探针对应的所述交点在目标空间坐标系的竖轴方向上的坐标值，确定至少部分所述注册探针对应的平行度，得到平行度集合；其中，所述目标空间坐标系是基于晶圆承载台建立的三维空间坐标系；从所述平行度集合中选取最大值，得到所述针卡的平行度。该方法能够提高针卡利用率。

本申请涉及一种内存自检方法、装置及电子设备。该方法包括：响应针对内存下发的自检使能指令，确定目标自检模式；若目标自检模式包括伪随机自检模式，则针对内存的目标地址空间进行多轮随机自检；每轮随机自检包括：生成随机写地址、随机写长度和随机写数据，基于随机写地址和随机写长度，将随机写数据写入至内存；生成随机读地址和随机读长度，基于随机读地址和随机读长度从内存读取第一数据；随机读地址与随机写地址对应相同特征多项式及种子，随机读长度与随机写长度对应相同特征多项式及种子；将随机写数据与第一数据进行数据比较，得到本轮的随机自检结果。该方法能提高自检效果，减少误码问题。

本申请公开了一种函数重定向方法、装置及电子设备，通过读取并解析配置信息，配置信息中包括需重定向的目标函数的函数信息；基于解析得到的目标函数的函数信息，生成目标函数的函数指针以及调用执行重定向函数对应的参数信息，目标函数的函数指针指向目标函数的函数地址，重定向函数为重定向后实际执行的函数；基于目标函数的函数指针和重定向函数对应的参数信息，生成重定向代码；执行重定向代码，以重定向目标函数，可以在需重定向的函数包括多个目标函数的情况下，分别生成各个目标函数对应的重定向代码，无需人工手动多次编写重复代码，可以提高编码效率，进而有助于提高函数重定向的效率。

本申请涉及一种多通道供电切换方法、电源装置和测试机，在接收到GANG模式解除指令后，断开主通道与从通道的反馈信号通信；在GANG模式下时，主通道与从通道并联连接且均处于恒压源模式，基于主通道的反馈信号对从通道进行输出控制；在各从通道切换为恒流源模式时，根据接收的恒流源模式参数，逐步降低从通道的输出电流直至设定电流值；在从通道的输出电流逐步降低的过程中，主通道的输出电流被动增加以维持向待测器件引脚的输出功率不变；在所有从通道的输出电流调节到设定电流值后，断开各从通道与主通道的并联连接。在维持输出功率不变的前提下，将从通道电流缓慢叠加到主通道后再断开从通道实现热切，有效减少电压毛刺，提高热切瞬间的供电稳定性。

本公开实施例提供了一种确定晶圆良率的方法和装置，通过获取当前轮次所测芯品的第一芯片数量；基于第一芯片数量，确定当前组待抽检芯片中已测芯片的第二芯片数量，当前组待抽检芯片通过至少一个轮次的芯片测试操作完成测试；基于第二芯片数量以及抽检阈值，确定待将测试结果写入目标字节空间的第三芯片数量；响应于第三芯片数量小于第一芯片数量，将当前轮次所测芯片中第三芯片数量的所测芯片的测试结果写入目标字节空间；基于目标字节空间内的测试结果，确定当前组待抽检芯片对应的晶圆良率，实现了对晶圆上的芯片分组统计晶圆良率，有助于及时发现芯片良率异常的区域，提高晶圆测试效率。