一种基于光晶格钟的微观粒子质量测量方法及系统
本发明涉及了光钟计量仪器技术领域,具体涉及了一种基于光晶格钟的微观粒子质量测量方法及系统,方法包括:基于光晶格钟平台,形成一维水平浅光晶格束缚待测微观粒子。先对待测粒子激光冷却,再装载至光晶格,通过光抽运将其制备到基态单一塞曼子能级。接着,调制一维水平浅光晶格中的一束晶格光使其周期性晃动。随后,确定不同调制幅度下待测粒子的钟跃迁谱线线宽,找出最小线宽对应的临界调制幅度。最后,依据临界调制幅度与晶格光波长,精确推断出光晶格囚禁的微观粒子的绝对质量。
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