№ CN122983005A発明
不明鉴定大米加工精度的方法
本发明公开了鉴定大米加工精度的方法,涉及大米加工技术领域,包括:根据米粒的背沟明场图像,确定米粒的背沟区域;依据三段式试剂序列和米粒的背沟区域,生成三段式试剂序列施加记录;依据三段式试剂序列施加记录,得到液体前沿推进序列;依据荧光图像序列的中心窄带区域和侧带区域,计算通道聚焦度;依据背沟荧光强度序列的第一平均荧光强度、第二平均荧光强度和通道聚焦度,计算膜留聚焦值;本发明能够提高大米加工精度检测的针对性和客观性。
❖蓝石智能信息技术(河北)有限公司; 唐山曹妃甸区天旭生态农业有限公司赵璐; 刘玉彬; 陈猛; 陈国永; 苏锦刚; 姜楠; 李志杰Oct 27, 2026§ 1/9 請求項G01N 21/64 (2006.01), G01N 21/84 (2006.01), G01N 33/10 (2006.01) +1