此芯科技集团有限公司

本申请提供了一种测试指令集生成方法及装置，方法包括：获取随机指令生成器按照当前约束生成针对待测芯片的当前指令窗口内的各个测试指令；将当前指令窗口内的各个测试指令放入当前阶段的指令缓冲区，并确定指令缓冲区内的所有测试指令的数量是否达到当前阶段对应的预设指令阶段数；在指令缓冲区内的所有测试指令的数量未达到当前阶段对应的预设指令阶段数时，确定指令缓冲区内各类指令属性的当前密度；在每类指令属性对应的当前密度均满足动态修正触发条件时，按照当前密度和预设密度的差异，构建针对待测芯片的动态约束；将动态约束发送至随机指令生成器，以使随机指令生成器按照动态约束生成针对待测芯片的下一个指令窗口的各个测试指令。