量子比特频率、量子芯片频率分布的测量方法及装置

本发明公开了一种量子比特频率、量子芯片频率分布的测量方法及装置，属于量子芯片测量技术领域。该量子比特频率测量方法中，通过获取样本量子比特对应的自电容参数、频率参数及电阻参数，确定可表征量子比特的频率、电阻及自电容之间对应关系的目标系数，基于确定的目标系数，依次获取室温下待测量子比特的自电容参数及电阻参数，可直接进行待测量子比特的频率确定。上述测量方法中，基于确定的目标系数，只需在常温下获取待测量子比特的电阻参数及自电容参数，即可确定出待测量子比特的频率，提高测量量子比特的频率的效率。