一种集成电路测试方法及系统

本申请公开了一种集成电路测试方法及系统，本申请属于计算机技术领域。该方法包括：获取待测试芯片的基础参数信息；根据所述基础参数信息配置数字孪生模型；基于预先在芯片正常运行的过程中采集的电磁场数据，对所述数字孪生模型进行校准；构建变温模拟任务；基于校准后的数字孪生模型进行变温模拟任务的测试，得到模型仿真结果；基于所述模型仿真结果确定所述待测试芯片是否存在异常，以及在存在异常的情况下进行异常定位。本技术方案，可以通过获取芯片基础参数构建并校准数字孪生模型，结合变温模拟测试与异常定位，实现全工况精准测试，避免漏检与设备损坏，满足高端领域对芯片环境适应性的测试需求。