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案件記録
一种轴端剩磁测量分析方法及系统
発明有効
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§ Ⅰ
案件概要
発明者
李义鸿; 舒克茂; 李山山; 顾红强; 高小强
IPC分類
G01R 33/12 (2006.01)G01R 33/00 (2006.01)B07C 5/344 (2006.01)
本发明提供一种轴端剩磁测量分析方法及系统,涉及电磁参数测量技术领域,所述方法包括:根据最后一个过零点,确认当前极的有效数据范围,并在该有效数据范围内,提取出当前极的极值,将该极值作为当前极的单极剩磁值;遍历并比较所有极的单极剩磁值,从中确定出最大的单极剩磁值,并将该值作为转子的最终轴端剩磁测量值;将最终轴端剩磁测量值与预设的剩磁标准阈值进行比对,根据比对结果生成相应的合格或不合格判断结论。本发明提升了检测精度、可靠性和实用性。
外部リソース