一种相位芯片优化设计方法及级联透射式波分复用器

本申请涉及波分复用器技术领域，更具体地，涉及一种相位芯片优化设计方法及级联透射式波分复用器。复用器通过级联设置的透射式相位芯片，入射光依次透射过若干相位芯片，每经过一个相位芯片就能够经过一次整形，最终光束被整形为所需模式的光束，每个相位芯片上只有一个相位结构，可以清晰的看到光束经过每个相位芯片之后的光斑，相位结构通过相位优化设计方法进行设计，由于每个相位芯片都能清洗看到透射后的光斑，在调试的时候，只需要逐个复用相位芯片，确认每个相位芯片的输出模式没有问题，则最终输出复用器的模式也是正常的；这样极大提高实验的效率，降低了调试的难度。