検索に戻る
案件記録
一种加速数据运算的ATE测试方法及系统
発明有効
10請求項 · 2 独立
§ Ⅰ
案件概要
出願人
杭州御渡半导体科技有限公司
発明者
薛孟锡; 翁亦鹏; 林玉京
IPC分類
G01R 31/28 (2006.01)G01R 31/317 (2006.01)G11C 29/10 (2006.01)G11C 29/56 (2006.01)G06F 9/38 (2018.01)G06F 13/16 (2006.01)
本发明提供一种加速数据运算的ATE测试方法及系统,方法包括:同时采集多个待测器件的数据,并将所述数据按照固定位宽存储为矩阵式结构,其中矩阵的每行对应一个测试周期,每行数据包含来自多个待测器件的混合数据;启动多个并行线程,每个线程负责处理一个测试周期的数据,将一个测试周期中混合在一起的多个待测器件的数据按预定规则分离到为各待测器件分别预先分配的独立内存区域;对分离后的各待测器件的数据分别执行预设算法处理;分析处理结果并生成报告。通过将多个待测器件的数据以矩阵式结构组织并引入并行线程处理机制,实现了测试数据的高效并行化处理,提高了测试效率,测试时间可缩短。
外部リソース