检测闪存芯片编程干扰的方法、闪存芯片和存储设备

本申请公开了一种检测闪存芯片编程干扰的方法、闪存芯片和存储设备，所述检测闪存芯片编程干扰的方法包括步骤：在闪存芯片的一存储块中选定目标cell单元；在所述目标cell单元中写入随机数据；读取所述目标cell单元的阈值电压数据，记录为目标检测数据；以预设规则在所述存储块的预设cell单元中写入随机数据；读取所述预设cell单元的阈值电压数据，记录为参考检测数据；计算所述参考检测数据相对于所述目标检测数据的偏移量，当所述偏移量超过预设值时，判定所述闪存芯片存在严重的编程干扰。通过上述方法，能够准确评估闪存芯片的编程干扰程度，保障闪存芯片的可靠性。