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案件記録
一种导电修复材料、修复结构及制备方法
発明有効
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§ Ⅰ
案件概要
発明者
吴刚; 柏杰夫; 谢超; 杨羽; 陈睿; 刘刚; 李彦锋; 曹劲; 曾鹏橙
IPC分類
C09D 163/00 (2006.01)C09D 5/24 (2006.01)C09D 7/65 (2018.01)B05D 7/24 (2006.01)
本发明公开了一种导电修复材料、修复结构及制备方法,涉及导电修复技术领域;导电修复材料按照重量百分比计,包括:Ag@CeO@C 三层核壳结构导电颗粒20–30 wt%、羧基化CNT 5–10 wt%、分散剂1–5 wt%、抗氧化剂3–5 wt%;氟硅接枝环氧树脂45–60 wt%、偶联剂1–3 wt%、壳聚糖1–2 wt%、固化剂4‑6 wt%;修复结构包括内层导电修复材料和外层ZnO/SiO钝化膜;本发明的修复材料和修复结构要能够有效地减少Ag⁺的溶出和迁移,显著提高材料的导电性和稳定性,同时提高了材料的附着力和使用寿命,且银的含量少,成本低。
外部リソース