大深径比微孔圆参数的光学无损测量方法、系统及设备

本申请属于计算机视觉与精密测量技术领域，具体公开了一种大深径比微孔圆参数的光学无损测量方法、系统及设备。通过本申请，通过多线程架构对原始帧图像进行边缘特征强化；根据目标强化梯度图像确定微米级别的待测量深径比微孔，并在原始帧图像上绘制相适应的目标测量圆；通过触发目标尺寸转换模块对像素距离参数进行转换。通过上述方式，通过多线程架构分离的图像采集线程、Sobel梯度计算线程以及伪彩色增强线程以高斯滤波降噪、梯度幅值融合及伪彩色映射的方式对原始帧图像进行边缘特征强化，并利用动态标定策略绘制的目标测量圆进行测量，从而能够实现对大深径比微孔圆参数的无损、动态、高精度测量，为精密器件质检提供可靠的技术支撑。