一种电子元器件半自动视觉辅助检测方法

本发明提供了一种电子元器件半自动视觉辅助检测方法，包括如下步骤：步骤1：预处理；步骤2：机器初筛；步骤3：人工复核；步骤4：结果处理；该电子元器件半自动视觉辅助检测方法，具有易用性高、灵活性强的特点，适用于中小批量、非标准、复杂缺陷场景，效率高且稳定。