校验方法、装置及电子设备

本公开提供了一种校验方法，包括：应用于第一电子设备，包括：获取目标清单，目标清单记录至少一个组件的至少一个组件信息，组件信息至少包括该组件对应的第一标识符，不同组件对应的第一标识符不同，目标清单由第二电子设备生成，第二电子设备与第一电子设备不同；基于第二电子设备生成第一标识符的生成方式，生成各个组件各自对应的第二标识符；响应于第一标识符和第二标识符不同，生成告警信息，告警信息表征第二电子设备所生成的目标清单存在异常。