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案件記録

电容刻蚀方法

発明有効
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§ Ⅰ

案件概要

発明者

董曼飞; 高明校; 史小平

IPC分類

H10B 12/00 (2023.01)H10D 1/60 (2025.01)

本发明提供了一种电容刻蚀方法,涉及半导体加工技术领域,以解决电容孔刻蚀精度不高的问题。电容刻蚀方法包括:硬掩模层沉积,在基底上沉积第一硬掩模层,第一硬掩模层为钨碳基硬掩模层;光刻图案化,在第一硬掩模层上形成预设图案;硬掩模层刻蚀,图案传递至第一硬掩模层;电容器刻蚀,刻蚀基底,以形成电容孔。其可以提高对电容孔的刻蚀精度。

外部リソース