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案件記録

利用多应力耦合模拟加速老化判定氧烛体系产品寿命的方法

発明不明
10請求項 · 1 独立
§ Ⅰ

案件概要

発明者

李宁; 朱耿溪; 韩卫敏; 李艳; 张航涛; 李龙强; 杨振峰; 田朴

出願日

Jun 1, 2026

公開日

Oct 16, 2026

IPC分類

G01N 17/00 (2006.01)G01D 21/02 (2006.01)G06F 17/10 (2006.01)

本发明公开了一种利用多应力耦合模拟加速老化判定氧烛体系产品寿命的方法,涉及氧烛体系性能检测技术领域。该方法通过构建“温度‑湿度”耦合加速应力场,结合多参数同步监测与动力学模型优化,首次将多应力耦合模拟加速老化试验应用于氧烛体系,同时解决了传统单一应力加速试验与实际储存环境偏差大、寿命预测精度不足的问题。选取71℃高温应力温度、80%RH可控湿度作为核心加速应力,基于修正的Arrhenius方程建立耦合动力学模型,通过活化能计算与性能衰减阈值判定,实现氧烛体系常温储存寿命的精准预测。本发明可有效大幅缩短试验周期,预测偏差率≤10%,适用于密闭空间等场景用氧烛体系的稳定性评估,为氧烛体系产品质量管控提供科学依据。

外部リソース