基于透反射多光谱融合的燕窝杂质检测方法及系统

本发明属于食品原料光学检测与图像识别技术领域，具体涉及一种基于透反射多光谱融合的燕窝杂质检测方法及系统，旨在解决现有燕窝视觉检测中浅色杂质不易识别、遮蔽杂质易漏检、厚度阴影与杂质遮挡难以区分以及难以输出杂质光学埋藏层级的问题。本发明包括：采集同一燕窝检测区域的反射荧光图像、反射多光谱图像和透射多光谱图像并形成配准多通道图像；基于透射通道形成透射遮蔽权重图，并由荧光相对响应、反射光谱差异、透射光谱差异和透射暗影边缘形成材质特征图；通过反射分支和透射分支进行特征调制及空间融合，得到联合特征；根据联合特征输出杂质类别和光学埋藏层级。本发明能够提高复杂燕窝结构下杂质定位、分类和遮蔽状态判断的可靠性。